BS 6493-2.1-1985 半导体器件.集成电路.总则
作者:标准资料网
时间:2024-05-28 02:28:41
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Integratedcircuits-General
【原文标准名称】:半导体器件.集成电路.总则
【标准号】:BS6493-2.1-1985
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1985-04-30
【实施或试行日期】:1985-04-30
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验持续时间;额定值;字母;符号;测量;电学测量;定义;集成电路;电子设备及元件;半导体器件;可靠度;接线端;电压;耐久试验;标准化参数;验收(鉴定);电气试验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:38P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.集成电路.总则
【标准号】:BS6493-2.1-1985
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1985-04-30
【实施或试行日期】:1985-04-30
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验持续时间;额定值;字母;符号;测量;电学测量;定义;集成电路;电子设备及元件;半导体器件;可靠度;接线端;电压;耐久试验;标准化参数;验收(鉴定);电气试验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:38P;A4
【正文语种】:英语
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