JIS X4167-2-2003 文件打印应用(DPA).第2部分:协议规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 16:55:06   浏览:9471   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:DocumentPrintingApplication(DPA)--Part2:Protocolspecification
【原文标准名称】:文件打印应用(DPA).第2部分:协议规范
【标准号】:JISX4167-2-2003
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2003-02-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonInformationTechnology
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:J1SX4167は,次の3部から構成される。—第1部:抽象サーピス定義及び手続き—第2部:プロトコル規定—第3部:管理の抽象サービス定義及び手続き
【中国标准分类号】:L70
【国际标准分类号】:35_240_20
【页数】:26P;A4
【正文语种】:日语


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基本信息
标准名称:便携式齿轮基节测量仪
中标分类: 机械 >> 工艺装备 >> 量具与量仪
替代情况:被JB/T 10023-1999代替
发布日期:
实施日期:2001-10-01
首发日期:
作废日期:
出版日期:
适用范围

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前言

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目录

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引用标准

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所属分类: 机械 工艺装备 量具与量仪
【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringFlatLengthonWafersofSiliconandOtherElectronicMaterials
【原文标准名称】:硅晶片及其他电子材料的平面长度测量的试验方法
【标准号】:ASTMF671-1999
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:材料;电子工程;长度;垫圈;测量
【英文主题词】:flats;opticalcomparator;orientationflats;semiconductor;silicon
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thistestmethodcoverstechniquesfordeterminationofthelengthoftheflattedportionofawaferperiphery.1.2Thistestmethodisintendedprimarilyforuseonelect
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:4P.;A4
【正文语种】: